Анализ стекла - методика по определению состава стекла на спектрометре Спектроскан Макс   

 

Определение элементного состава стекла на спектрометре Спектроскан Макс

Методические рекомендации по определению элементного состава стекла

Назначение и область применения

Методика предназначена для определения элементного состава стекла массовой доли окислов натрия, магния, алюминия, кремния, кальция, калия, железа, марганца, титана, рентгенофлуоресцентным методом на вакуумном Спектрометре «Спектроскан Макс GV».

Нормы погрешностей измерений

Относительные средние квадратичные отклонения погрешности определения металлов (в %%) в диапазоне рабочих концентраций приведены в таблице 1.

Таблица 1
Определяемый оксид Диапазон измерений
массовой доли оксида, %
Границы абсолютной погрешности (D), масс. %
Полированная поверхность Шлифованная поверхность
Na2O от 11.7 до 15.2 0.26 0.32
MgO от 0.96 до 3.3 0.085 0.09
Al2O3 от 1.50 до 6.33 0.15 0.16
SiO2 от 62.2 до 73.5 0.36 0.41
K2O от 0.70 до 0.96 0.075 0.075
CaO от 6.40 до 11.80 0.335 0.335
Fe2O3 от 0.39 до 0.85 0.059 0.059
SO3 от 0.01 до 0.062 0.008 0.008
MnO2 от 0.017 до 0.055 0.017 0.017
TiO2 от 0.113 до 0.39 0.017 0.017

Метод измерений и пробоподготовка

Стандартные образцы предприятия (СОП) представляют собой полированные (шлифованные) образцы стекла диаметром 20 мм, толщиной не менее 3 мм. СОП готовят искусственно с проведением химического анализа после варки стекла, либо отбирают в производственных условиях с последующей подготовкой и с проведением химического анализа.

В качестве пробоподготовки используют

  • Отбор капли из фидерного питателя;
  • Прессовка капли в рычажном прессе в девятиместной прессформе;
  • Отжиг заготовок;
  • Последовательная шлифовка выпуклой стороны образцов абразивными порошками электрокорунда марок М5; М10; М20; М40;
  • Полировка на войлочном полировальнике пастой ГОИ.
  • Для сырья и материалов стекольного производства пробоподготовка – сплавление в муфельной печи.
  • Комплектация

  • Стандартные образцы предприятия (СОП) в количестве не менее семи образцов.

    Вспомогательные устройства:

  • шлифовальный станок;
  • войлочный полировальник;
  • рычажный пресс;
  • девятиместная прессформа;
  • алмазная пила;

    Требования к оборудованию

  • РФ-Спектрометр «Спектроскан Макс GV».
  • муфельная печь со вспомогательными устройствами или печь «Макс-2».
  • IBM-совместимый компьютер (Pentium и выше) с принтером;
  • ПО для количественного анализа «Спектр-Квант» версии не ниже 4.0.

    Методика по определения элементного состава стеклаВернуться к началу страницыПерейти в каталог оборудования Спектроскан

  •  
    Rambler's Top100
    Рейтинг@Mail.ru
    Rating All.BY

    Не нашли нужную информацию? Воспользуйтесь поиском:
    Пользовательского поиска

    Главная Преимущества Применение Каталог Сертификация Вопрос-ответ Ссылки Контакты Карта сайта
    Создание сайта - студия Мегаполис